测量系统分析与统计过程控制--SPC&MSA
SPC简史
产品控制和过程控制
缺陷发现和缺陷预防
质量和
2、一些简单的统计数
图形方法
均值和中值
样本和群体
3、变差
变差的普通和特殊原因
受控和非受控过程
以时间分布作图
4、抽样程序
理想样本
抽样和能力
抽样和控制策略
5、样本均值
过程控制和产品能力
正态分布
6、控制图模式
& R 和 & s图
计算控制限
选用正确的控制图
7、控制图解释
失控信号
反应计划
8、过程能力
9、过程能力指数
10、单值图
11、属性类数据的控制图
12、第二版新增控制图简介
13、测量
什么是测量系统
什么是测量误差
为何要做测量系统分析
14、MSA和
如何满足ISO/TS16949对MSA的要求
优胜者的方法
15、理想状态
变差的表达
测量系统统计特性
测量设备的分辨力
测量系统的分辨力
计量型测量系统的分析重复性和再现性分析
偏倚、线性和稳定性分析
16、计数型量具
17、其它类型测量系统分析
破坏性测量系统分析
自动化测量系统分析
18、测量系统能力不够时的
19、总结
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