培训受众: 电子企业研发部经理、测试部经理、制造技术部经理、新产品导入(NPI)经理，及研发工程师等 课程收益: 了解可测性设计的基本原理和基本方法
了解可测性设计在产品研发过程中的重要性
了解ICT可测性设计的基本内容
了解FT可测性设计的基本内容
了解ST可测性设计的基本内容
了解可测性设计如何同步于产品的研发设计
掌握可测性设计的工程方法和流程 课程大纲: 一、可测性设计概述
1、可测性定义与概念
2、可测性的设计过程

二、可测性设计的原始需求和设计需求
1、可测性设计的原始需求
2、整机系统的可测性设计需求
3、单板与模块的可测性设计需求

三、输入输出通道及内置数据源设计
1、测试控制代理
2、内置测试数据源的自动生成

四、能控性设计
1、业务状态的控制与数据设置
2、任务的建立和控制设计

五、能观性设计
1、系统配置状态监控
2、系统业务通道状态监控
3、单板运行状态监测
4、系统资源状态监测
5、系统其它状态监测

六、内建自测试(BIST)设计
1、模块级自检与环回测试
2、故障的自动诊断

七、JTAG电路的可测性设计

八、案例导读与讨论